Schneller ohne als mit

Die kapazitiven Messsysteme der Accumeasure-Familie des US-amerikanischen Herstellers MTI Instruments (MTII) werden in Deutschland, Österreich und der Schweiz ab sofort exklusiv von Althen vertrieben. Der Messtechnikspezialist unterstützt seine Kunden damit bei der berührungslosen Messung von Abstand, Weg oder Bewegung in unterschiedlichsten Anwendungen in Fertigung, Forschung und Qualitätskontrolle. Durch ihr passives Sensor-/Verstärker-Design haben die Accumeasure-Geräte ein geringes Grundrauschen und ermöglichen je nach Bandbreite Messungen mit Auflösungen bis zu 0,1 Nanometer. Das passive Design ermöglicht zudem den Einsatz in Bereichen mit hohen Temperaturen und rauen Umgebungsbedingungen. Die typische Auflösung liegt bei 0,01 Prozent des Messbereichs bei 500 Hertz. Damit eignen sich Accumeasure-Systeme beispielsweise für die exakte Positionierung von Linsen, die Dickenmessung an Blechen und Geweben, die Qualitätskontrolle an Stanz- und Frästeilen, für die Detektion von Defekten an Kugellagern, Schäften, Scheiben, Autoreifen und Computerfestplatten sowie die Analyse des Vibrationsverhaltens an beweglichen Teilen. Das Accumeasure-System umfasst mehrere Sensor-Bauformen, die eine Vielzahl kundenspezifischer Messlösungen unterstützen. Die berührungslose Messung erzielt dabei mit schnellen Ansprechzeiten unter 50 Mikrosekunden bessere Spezifikationen als berührende oder Wirbelstrom-Messsysteme. Besondere Vorteile bietet das Verfahren bei der Erkennung von sinusförmigen oder schnellen, transienten Bewegungen. Accumeasure basiert auf einem klassischen Plattenkondensator-Design, wobei eine der beiden Elektroden der kapazitive Sensor ist. Das zu messende Objekt bildet die andere Elektrode. Die Leitfähigkeit des Mediums zwischen den Platten ist üblicherweise konstant, sodass die einzige Variable, die eine Änderung der Kapazität verursacht, der Abstand zwischen Sensor und Messobjekt ist. Accumeasure wandelt diese Veränderung mittels eines patentierten Verfahrens in eine lineare Ausgangsspannung um. Aufgrund eines speziellen von MTII entwickelten Prinzips ist auch die Überprüfung nicht geerdeter Messobjekte möglich.