ZerspanenEffizientere Waferinspektion

Dieses neue Inspektionsmikroskop verbesserte die Fehlerdetektion und bietet dem Anwender damit zuverlässigere Inspektionsergebnisse. Erreicht wird dies durch einen automatisch für die jeweils gewählte Vergrößerung optimierten Kontrast, den leichten Zugriff auf komplexere Kontrastmethoden sowie eine intuitive Bedienung.