electronicaNeues Schmalband-IoT Testsystem
Endrich stellt auf der electronica ein NB-IoT Testsystem vor. Bei dieser Lösung handelt es sich um eine neue, zellenbasierte LPWAN-Technologie auf Basis der bestehenden LTE-Infrastruktur.
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Das NB-IoT Testsystem ist eine LPWAN-Technologie auf Basis bestehender LTE-Infrastruktur. © Endrich