Sensorik + MesstechnikSchritt für Schritt

wird der Anwender der LEXT 3D bei der Anwendung geführt. Die konfokalen Laser-Scanning-Mikroskope von Olympus ermöglichen exakte 3D-Messungen. Das OLS 3100 für anspruchsvolle Metrologie und das OLS 3000 IR für die zerstörungsfreie Beobachtung komplexer Halbleiterkomponenten.